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光学反射式分布测量技术浅析【亚博APp买球】
时间:2021-01-23 00:07 点击次数:
本文摘要:作者:中山大学黄延是蔡志强、江苏基、怡宝群1、光散射观测受光纤等逆光链路限制的特征参数测量技术。反射式是测量光背线路信号,用于观察、定位和测量光纤链路的焊接、连接器、倾斜等引起的光学性能变化。广域光系统OTDR是该技术的典型应用。 OTDR可以测量整个光纤链路的波动,获得与长度相关的波动细节,测量具有无损、测量过程慢、方便、结果准确、直观的特点。因此,在生产、研究及通讯领域有着广泛的应用。

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作者:中山大学黄延是蔡志强、江苏基、怡宝群1、光散射观测受光纤等逆光链路限制的特征参数测量技术。反射式是测量光背线路信号,用于观察、定位和测量光纤链路的焊接、连接器、倾斜等引起的光学性能变化。广域光系统OTDR是该技术的典型应用。

OTDR可以测量整个光纤链路的波动,获得与长度相关的波动细节,测量具有无损、测量过程慢、方便、结果准确、直观的特点。因此,在生产、研究及通讯领域有着广泛的应用。

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为了提高测量性能,明确提出了基于OTDR的时域相关测量、频域测量和干涉测量等改进测量技术。二、OTDR的测量原理[1]光线沿光纤传播时,由于核心折射率的微小不均匀分布,瑞利散射不会发生太多,部分散射光不会偏移到输出端。将激光射入光纤,监测这些偏移衍射光的强度变化,得到沿光纤长度产生的波动曲线。

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利用该技术,可以观察光纤中的散射系数、损耗和连接点、耦合点、断点等。测量的偏移散射光有两种:瑞利散射光和光纤截面或光纤连接产生的菲涅耳光线。如果入射光功率为P0,光纤中L的偏移散射光传播到入射光的功率为Ps,光纤L的衰减系数为(L),则可以得到以下公式:(1)形式(1)可以告诉你更好的光纤的OTDR测量曲线必须与倾斜恒定的直线相似,曲线的突然变化表示光纤。

光纤中L1和L2之间的平均衰减系数可从公式(2)获得。(2) 3 .应用于光学观测精细结构的前景光线观测可以应用于光纤的大范围测量,对光路的小范围和光学仪器的精细结构测量也可以起到最重要的作用。

光时域可以使用观测技术、光频域观测技术和干扰观测技术等来提高OTDR的测量精度。


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